| 1 | Karakterizacija debeloslojnih otpornih struktura zasnovana na merenjima niskofrekventnog šuma / Characterization of thick-film resistors based on low-frequency noise measurements 121 str. (2016 god.) Cena: 880,00 DIN |
| 1 | Karakterizacija debeloslojnih otpornih struktura zasnovana na merenjima niskofrekventnog šuma / Characterization of thick-film resistors based on low-frequency noise measurements 121 str. (2016 god.) Cena: 880,00 DIN |